9812DX作为单一完整的低频噪声测试系统，支持多种半导体器件类型在各种工作条件下（如200V高压、10pA极低电流等）的高精度噪声测试。通过低频噪声测试，可以帮助芯片制造厂检测和排除工艺制造缺陷，确保芯片质量符合预期，提高芯片稳定性。

• 晶圆级噪声测试精度和高测试带宽，最低测试噪声的电流精度低至10^-27A²/Hz。

• 典型噪声测试速度提高至一个偏置条件仅需20s、最高测试电压提高到200V。

• 通过并行测试架构解决方案以及协同FS-Pro半导体参数测试系统等方式大幅度提高测试效率和吞吐量。

• 用于28/14/10/7/5/3nm等各工艺节点的先进工艺研发和高端集成电路设计。

• 内置功能强大的NoiseProPlus软件，支持1/f噪声、RTN噪声测试和数据分析。